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U1701B手持式電容表主要特性與技術指標?11,000 個計數的分辨率，雙顯示屏?從 0.1 pF 到 199.9 mF 的廣泛測量范圍?可視聽容差模式，可輕...

33503A BenchLink Waveform Builder 軟件主要特性與技術指標?波形程序庫可以快速、輕松地接入常見信號（正弦波、方波、三角波、斜波、...

7935晶圓檢測系統主要特色：?zui大可檢測8“ 晶圓 （檢測區域達10“ 範圍 ）?可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目?上片後晶圓對位機制?自動尋邊功能...

3112 晶片測試分類機主要特色：?高信賴度之PnP自動化測試分類機?x4 多盤置入自動測試分類?* （X/Y/Z/θ） 可調式探針座模組?測式座產品堆疊檢測?...

3813 觸碰面板多點半自動測試機主要特色：?可靠的觸碰面板測試機?適合數位式觸碰面板與類比式觸碰面板?面板尺寸 : 6 inch x 3 sites or 1...

3380-P VLSI測試系統主要特色：?85 MHz 測試頻率?512 logic I/O pins （ zui高可至 576 pins）?平行測試可達 51...

3380-D VLSI測試系統主要特色：?100 MHz 測試頻率?256 logic I/O pins （ zui高可至 576 pins）?平行測試可達 2...

3380 VLSI測試系統主要特色：?50/100 MHz 測試頻率?50/100 Mbps data rate?1024 I/O pins （zui高可至12...

3360-P VLSI測試系統主要特色：?25/50 MHz 測試頻率?25/50 Mbps data rate?256 logic I/O pins?8M （...

3360-D VLSI測試系統主要特色：?50 MHz 測試頻率?32/64 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性...

3360 VLSI測試系統主要特色：?50 MHz 測試頻率?608 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性化硬體結...

3280 Test-In-Tray測試分類機主要特色：?整合SD卡測試機與自動分類機功能?平行測試120個micro SD卡?Test-In-Tray?UPH ...

3650-EX SoC/Analog 測試系統主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?1024個 I/O 通道（I/O Channel）?32M （64M ...

3650-CX SoC測試系統主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?256個 I/O 通道（I/O Channel）?16/32 MW vector 記憶...

3650 SoC 測試系統主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?512個 I/O 通道（I/O Channel）?16M （32M Max.） Patte...

33010 High Speed PXIe Digital IO Card主要特色：?Standard PXIe-Hybrid [3U] compatible ...

3680 Advanced SoC/Analog Test System主要特色：?24 interchangeable slots for digital, ...

3160 4site終端測試分類機主要特色：?9K pcs 產能 （Model 3160 / 3160A ）?彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 （3160F）?1~...

直流電源供應模組Model36020主要特色：?相容於PXI 3U/混合式PXI匯流排,4通道?+5V/-2V 及 +10V/-2V 兩種 force rang...

通用型機箱Model52100series主要特色：?低售價且高效能的 PXI 標準機箱?背板設計*符合 PXI / CompactPCI 規範?機箱架構強化設...